混合信号集成电路测试与测量导论
书名：An Introduction to Mixed‑Signal IC Test & Measurement
作者：Gordon Roberts，Friedrich Taenzler，Mark Burns
版本：Second Edition（第2版）
出版社：Oxford University Press
内容简介
混合信号测试领域经典教材，围绕ADC、DAC、PLL、模拟前端等数模混合电路，系统讲解测试基础理论、关键参数定义、测试算法、ATE自动测试设备原理。覆盖信噪比SNR、THD总谐波失真、SFDR无杂散动态范围、增益误差、失调等核心指标的测量原理，包含大量工程实操案例，结合TI工程实践，打通理论与芯片量产测试。
适用人群
微电子、集成电路方向高年级本科生、研究生；从事模拟/混合信号芯片测试、ATE开发、芯片验证的硬件工程师；需要学习数模混合IC测试指标的学习者，需要具备模拟电路基础。
微电子集成电路混合信号芯片