【表面分析】飞行二次离子质谱（TOF-SIMS）
[一]技术简介
超高灵敏度表面分析技术，仅探测样品最表层1~2nm原子层，同步获取元素、分子碎片的质谱信息与空间分布，支持二维化学成像与三维深度重构，检出限可达ppm~ppb级。
[二]测试原理
超高真空环境下，脉冲一次离子束聚焦轰击样品表面，通过级联碰撞溅射产生带电二次离子；所有离子经相同电场加速后进入无场飞行管，轻离子飞行时间更短，通过飞行时间换算质荷比，实现全质谱并行检测与逐像素化学成像。
[三]测试项目
1. 正/负离子全谱定性分析
2. 二维化学面分布成像
3. 薄膜深度剖析
4. 三维化学结构重构
5. 同位素与微量杂质识别
6. 有机官能团/分子碎片鉴定
飞行时间二次离子质谱 飞行时间二次离子质谱分析 飞行时间质谱 tofsims tofsims测试 材料测试 材料表征 科研检测 材料表征测试